MultiProf
Multi-Profile粗糙度分析
表面变化似乎困扰着几乎每一个涉及表面纹理测量的行业。在许多情况下，给定表面内的变化超过了该表面的整个规格范围。在这种情况下，经常需要进行多次测量并报告表面纹理参数的平均值。
Digital Metrology Solutions 在处理表面变化和多次测量方面具有丰富的经验。然而，许多表面纹理仪器制造商没有这样的经验，因此他们在这方面是没有有用的工具来帮助用户的。
大多数表面纹理测量系统都是围绕单个测量所开发的。但是现在…
MultiProf多剖面表面纹理分析软件包的介绍
MultiProf是一个32位Windows应用程序，可以与多种表面纹理测量仪器接口，并提供多达4个同步剖面分析。此外，参数的平均值以易于阅读的格式提供。
MultiProf软件包的构建考虑到了工作时的情况。简单的电子表格风格的界面允许对单个剖面进行直观的选择，并且显示器提供了测量值之间变化的快速可视化表示。在“联机”模式下，当概要测量完成时，选择矩形自动增加到下一个概要字段。一旦在第一个字段中进行了新的测量(表示一个新的工件)，就可以自动导出结果，并自动清除以前的数据集。
包装不代表一切
在用户界面之下，MultiProf提供了强大的分析能力。 例如，新的ISO 13565过滤和参数包括在标准分析方法中。 此外，计算结果(对于单个测量以及平均值)可以在测量周期完成后自动导出到电子表格中，用于SPC或其他存档目的。
注意:这个版本的MultiProf包含了为平台珩磨量身定制的分析工具，但是MultiProf应用程序可以很容易地进行定制，以适应其他可能更适合于其他应用程序的参数集。
连接MultiProf
漂亮的外观和强大的分析能力可能很重要，但是如果它们不能很容易地集成到测量系统中，那么它们就没有多大价值。在开发MultiProf的过程中，Digital Metrology 考虑到了这些因素，其结果是一个包可以通过多种方式“连接”到您现有的测量系统。MultiProf参与测量过程的范围可以从独立运行(没有操作员干预)到直接控制仪器。以下是一些可用的接口方法:
:: Windows 窗口– MultiProf可以从现有的仪器软件中自动导入测量的剖面，只需从现有软件中保存剖面(以已知的格式和位置)，MultiProf可以自动将文件加载到当前测量位置。
:: 串行端口访问– MultiProf可以容纳来自多个常用剖面测量仪器的串口接口。在许多情况下，MultiProf实际上可以通过串口控制测量过程，将测量过程转换为一个简单的按键。
:: 直接硬件访问– 一些(特别是较老的)工具不提供对概要数据的文件或串行端口访问。通常可以用另一种硬件替代方法来访问这些数据。虽然这可能涉及到特殊的数据采集硬件，MultiProf完全能够集成这些功能。这种接口方法的最终是一个完全升级的测量工具，能够提供定制的、多剖面分析。(有关地面测量仪器硬件升级的更多信息，请参阅升级部分。)
厌倦手动处理多个剖面?
请与Digital Metrology Solutions讨论如何将MultiProf应用于您的表面纹理测量应用程序。
毕竟，没必要一个人手动执行计算机可以自动完成的任务